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图示原理之扫描电子显微技术(SEM)


图示原理之扫描电子显微技术(SEM)

分析原理:用电子技术检测高能电子束与样品作用时产生二次电子、背散射电子、吸收电子、X射线等并放大成象

谱图的表示方法:背散射象、二次电子象、吸收电流象、元素的线分布和面分布等

提供的信息:断口形貌、表面显微结构、薄膜内部的显微结构、微区元素分析与定量元素分析等

图示原理之扫描电子显微技术(SEM)

SEM工作图

入射电子与样品中原子的价电子发生非弹性散射作用而损失的那部分能量(30~50eV)激发核外电子脱离原子,能量大于材料逸出功的价电子从样品表面逸出成为真空中的自由电子,此即二次电子。

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电子发射图

图示原理之扫描电子显微技术(SEM)

二次电子探测图

二次电子试样表面状态非常敏感,能有效显示试样表面的微观形貌,分辨率可达5~10nm。

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二次电子扫描成像

入射电子达到离核很近的地方被反射,没有能量损失;既包括与原子核作用而形成的弹性背散射电子,又包括与样品核外电子作用而形成的非弹性背散射电子。

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背散射电子探测图

用背反射信号进行形貌分析时,其分辨率远比二次电子低。可根据背散射电子像的亮暗程度,判别出相应区域的原子序数的相对大小,由此可对金属及其合金的显微组织进行成分分析。

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EBSD成像过程

本文节选自:http://www.labtoday.net/html/instrument/news/2018/0824/4744.html

(文章来源:实验室资讯网) (责任编辑:子豪)

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