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图示原理之原子力显微镜(AFM)

实验室资讯网时间:2018-10-23 点击: 百度搜索

【导读】分析原理: 将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定,另一端有一微小的针尖,由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的作用力,通过在扫描时控制这种力的恒定,带有针尖的微悬臂将在垂直于样品的表面方向起伏运动。从而可以获得样品表面形貌的信息 谱图的表示方法: 微悬臂对应于扫描各......
TAG标签: 仪器原理 原子力显微镜 AFM

图示原理之原子力显微镜(AFM)

分析原理:将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定,另一端有一微小的针尖,由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的作用力,通过在扫描时控制这种力的恒定,带有针尖的微悬臂将在垂直于样品的表面方向起伏运动。从而可以获得样品表面形貌的信息

谱图的表示方法:微悬臂对应于扫描各点的位置变化

提供的信息:样品表面形貌的信息

图示原理之原子力显微镜(AFM)

AFM原理:针尖与表面原子相互作用

AFM的扫描模式有接触模式和非接触模式,接触式利用原子之间的排斥力的变化而产生样品表面轮廓;非接触式利用原子之间的吸引力的变化而产生样品表面轮廓。

图示原理之原子力显微镜(AFM)

接触模式

本文节选自:http://www.labtoday.net/html/instrument/news/2018/0824/4744.html

(本文来源:实验室资讯网 )

(责任编辑:子豪)

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